X-ray Diffraction (XRD)

Metode yang digunakan untuk mengetahui kristalinitas mineral adalah dengan difraksi sinar X. Analisis difraksi sinar X merupakan metode yang  bersifat tidak merusak, yang berarti bahwa contoh tidak dipengaruhi oleh analisis dan masih dapat digunakan untuk analisis lain. Akan tetapi metode ini tidak dapat diterapkan untuk analisis bahan yang bersifat amorf atau nonkristalin (Zahriyah, 2009).

Sinar-X merupakan gelombang elektromagnetik dengan panjang  gelombang pendek sebesar 0,7 sampai 0,2 Å yang dihasilkan dari penembakan logam   dengan   elektron   berenergi   tinggi   kemudian   elektron-elektron   ini mengalami pengurangan kecepatan dengan cepat dan energinya diubah menjadi energi foton sehingga energinya besar (lebih besar daripada energi sinar UV-VIS) dan tidak mengalami pembelokan pada medan magnet (Zahriyah, 2009).

Ketika radiasi elektromagnetik melewati suatu materi, terjadi interaksi dengan elektron dalam atom dan sebagian dihamburkan ke segala arah. Dalam beberapa arah, gelombang berada dalam satu fasa dan saling memperkuat satu sama lain sehingga terjadi interferensi konstruktif sedangkan sebagian tidak satu fase dan saling meniadakan sehingga terjadi interferensi destruktif (Hadrah, 2011).

Interferensi konstruktif tergantung pada jarak antar bidang (d), besar sudut difraksi (θ) dan berlangsung hanya apabila memenuhi hukum Bragg :

n.λ = 2.d.sin θ         n = 1,2,...                (1)

Keterangan :

d = jarak interplanar atau interlayer
θ = kisi difraksi sinar-X

λ = panjang gelombang logam standar

 n  = tingkat atau orde difraksi